Tracked shipping to Taiwan with premium packaging for just NT$300 

Ship to
Taiwan
0

My Account

  • argentina
  • chile
  • colombia
  • españa
  • méxico
  • perú
  • estados unidos
  • internacional

menu

Select your country

Americas

Europe

Rest of the world

portada Techniken zur Behebung von Leckstromverlusten in der letzten Stufe und dynamischen IR-Abfällen (in German)
Type
Physical Book
Publisher
Author
Language
German
Pages
108
Format
Paperback
Dimensions
22.9 x 15.2 x 0.7 cm
ISBN13
9786209333019

Techniken zur Behebung von Leckstromverlusten in der letzten Stufe und dynamischen IR-Abfällen (in German)

S. Murti Sarma, N.; Vasantha Kumar, Petta Veera Bala (Author) · Verlag Unser Wissen · Paperback

Techniken zur Behebung von Leckstromverlusten in der letzten Stufe und dynamischen IR-Abfällen (in German) - S. Murti Sarma, N.; Vasantha Kumar, Petta Veera Bala

Cheaper New Book Imported to Taiwan
Delivery: 28 Jul - 05 Aug Shipping: 12 to 13 business days.
NT$ 2,035
Faster New Book Imported to Taiwan
Delivery: 16 Jul - 24 Jul Shipping: 4 to 5 business days.
NT$ 2,176
NT$ 2,035

Choose the list to add your product or create one New List

Go to My Wishlists
Calculate shipping cost

Synopsis "Techniken zur Behebung von Leckstromverlusten in der letzten Stufe und dynamischen IR-Abfällen (in German)"

In dieser Monografie werden die Probleme der Leckstromleistung, der Stromintegrität aufgrund von Ersatzzellen und Spitzen-IR-Abfällen behandelt. Der Umfang der vorgeschlagenen Lösung liegt auf der Ebene des physikalischen Designs nahe dem Designabschluss, wo Optimierungswerkzeuge nur über begrenzte Ressourcen zur Behebung dieser Probleme verfügen. Es gibt jedoch viel Spielraum für zukünftige Arbeiten in anderen Bereichen des Low-PM-Spektrums, wie z. B. auf Schaltungsebene, Architekturebene, Design-Ebene und Software-Codierungsebene. Die meisten heutigen Halbleiterentwickler sind aufgrund des Aufwands für die Änderung bestehender Abläufe und der engen Design-Zeitpläne nicht an sehr neuen Techniken wie Gate-Array-ECO-Abläufen unter Verwendung von ECO-Kits von Bibliotheksanbietern interessiert. Die vorgeschlagene Technik der "optimalen Zustandszuweisung" kann dazu beitragen, die Leckage von Ersatzzellen zu reduzieren, ohne die Designabläufe zu beeinträchtigen, aber die Umstellung auf diese neuen Techniken wird zu einer vollständigen Reduzierung der Leckleistung von Ersatzzellen beitragen. Ein weiterer möglicher Bereich für zukünftige Untersuchungen ist die Verwendung von 65-nm-, 45-nm-, 32-nm- und 28-nm-Bibliotheken für die Implementierung verschiedener datenflussintensiver Architekturen, um die vorgeschlagene Technik der "selektiven Glitch-Reduzierung" zu validieren.

Customers reviews

More customer reviews
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)

Frequently Asked Questions about the Book

Is the book original?

All books in our catalog are Original.

In what language is the book written?

The book is written in German.

What is the format of this book?

The binding of this edition is Paperback.

Questions and Answers about the Book

Do you have a question about the book? Login to be able to add your own question.

Opinions about Bookdelivery

More customer reviews